【半導體產業前瞻趨勢論壇】AI晶片測試是「必要之惡」　國家儀器談異質整合挑戰

隨著AI晶片製程技術日新月異，測試設備製造商美國國家儀器（NI）指出，很多人將測試環節看作「必要之惡」。客戶為求產品正常運作，並符合其宣稱的效能表現，反覆測試驗證必不可少，但過程十分冗長，程序也很複雜，導致整體測試成本不斷上漲。因此...

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